咨询热线：
021-61997300
13761118616
021-61997300
13761118616
产品列表PRODUCTS LIST
高压加速老化试验箱测试半导体器件可靠性方法
一、前言：
在半导体器件的研发与生产过程中，确保其性能的可靠性和稳定性至关重要。高压加速老化试验箱能够模拟各种恶劣环境条件，通过对半导体器件施加高电压和高温等应力，快速暴露潜在的缺陷和故障，大大缩短了产品可靠性验证的时间。
二、测试流程：
样品准备：选择一定数量且型号规格相同的半导体器件作为测试样品，确保样品外观无明显损伤、引脚无变形等。对每个样品进行编号，记录初始参数，如正向导通电压、反向漏电流等。
试验箱设置：根据半导体器件的特性和测试要求，设置高压加速老化试验箱的参数。包括设定老化电压，一般为器件额定电压的 1.5 - 2 倍；老化温度，通常在 100 - 150℃之间；老化时间，可根据实际情况设定为 24 小时、48 小时或更长。
样品安装：将编号后的半导体器件小心安装在试验箱的样品架上，确保器件引脚与测试夹具连接牢固，避免虚接影响测试结果。
测试过程：启动试验箱，开始老化测试。在老化过程中，每隔一定时间（如 1 小时）对样品进行一次参数测量，记录正向导通电压、反向漏电流、结温等参数变化。若发现某个样品参数超出正常范围，应立即标记并记录相关情况。
测试结束：达到设定的老化时间后，关闭试验箱，待温度降至室温后，取出样品。再次对所有样品进行全面参数测量，并与初始参数进行对比分析，评估器件的老化性能。
测试数据参考：
样品编号 | 初始正向导通电压 (V) | 老化 1 小时正向导通电压 (V) | 老化 2 小时正向导通电压 (V) | 老化 3 小时正向导通电压 (V) | 老化结束正向导通电压 (V) | 初始反向漏电流 (A) | 老化 1 小时反向漏电流 (A) | 老化 2 小时反向漏电流 (A) | 老化 3 小时反向漏电流 (A) | 老化结束反向漏电流 (A) | 初始结温 (℃) | 老化 1 小时结温 (℃) | 老化 2 小时结温 (℃) | 老化 3 小时结温 (℃) | 老化结束结温 (℃) |
1 | 0.70 | 0.71 | 0.72 | 0.73 | 0.75 | 1.00×10?? | 1.20×10?? | 1.50×10?? | 1.80×10?? | 2.20×10?? | 30 | 40 | 50 | 60 | 70 |
2 | 0.71 | 0.72 | 0.73 | 0.74 | 0.76 | 1.10×10?? | 1.30×10?? | 1.60×10?? | 1.90×10?? | 2.30×10?? | 31 | 41 | 51 | 61 | 71 |
3 | 0.69 | 0.70 | 0.71 | 0.72 | 0.74 | 0.90×10?? | 1.10×10?? | 1.40×10?? | 1.70×10?? | 2.10×10?? | 29 | 39 | 49 | 59 | 69 |
