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    时代膜厚仪技术参数
    点击次数:2195 更新时间:2011-05-25

    涂层膜厚仪——技术参数表:

    测头类型
    N
    测量原理
    电涡流
    测量范围
    0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
    低限分辨力
    1µm(10um以下为0.1um)
    探头连接方式
    一体化
    示值误差
    一点校准(um)
    ±[3%H+1.5]
    两点校准(um)
    ±[(1%~3%)H+1.5]
    测量条件
    zui小曲率半径(mm)
    凸3    凹10
    基体zui小面积的直径(mm)
    ф5
    zui小临界厚度(mm)
    0.3
    温湿度
     
    0~40℃
    20%RH~90%RH
     
    统计功能
    平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
    工作方式
    直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
    测量方式
    连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
    上下限设置
    存储能力
    15 个测量值
    打印/连接计算机
    可选配打印机/不能连接电脑
    关机方式
    自动
    电源
    二节3.6V镍镉电池
    外形尺寸
    150×55.5×23mm
    重量
    150g

    涂层膜厚仪——标准配置:
      主机

    z标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
    z铁基体
    z充电器
     

    涂层膜厚仪——执行标准:

    是一种超小涂层膜厚仪型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量??晒惴河糜谥圃煲?、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 技术:    欢迎您的来电来函咨询,我们将竭诚为您服务

      GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
     
      J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

      JG 818─93 《电涡流式测厚仪》

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